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    功函數測試

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    開爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)

    單點開爾文探針

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    超高真空開爾文探針

    環境控制開爾文探針

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